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聚焦瑞凱,傳遞環(huán)境檢測行業(yè)新動態(tài)
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瑞凱儀器
18 2021-09

風風雨雨-瑞凱儀器闖過的二十年!

瑞凱研發(fā)設計為一體,并細分為幾大設計方向,每個方向又設有專門的技術研發(fā)團隊模塊,各模塊的設計結果匯總為一個整體。這樣既保證了產(chǎn)品的特性,還能達到產(chǎn)品的優(yōu)化。如今,瑞凱堪稱是制造大廠,也基本上具備了多方面面進軍制造強廠的條件。
按有關標準進行ESS時常遇到的問題

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GJB1032第1節(jié)明確,本標準適用于地面固定設備、地面移動設備艦船用設備、飛機用設備及外掛、導彈用設備上的電子產(chǎn)品,且…
HASS常用應力類型及篩選機理

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HASS作為一種剔除早期缺陷器件的工藝手段,常用的篩選應力有溫度循環(huán)、機械應力、電應力及濕度等,篩選設計時通常采用上述兩…
18um銅線產(chǎn)品可靠性測試

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待完成芯片的封裝以后,需要對產(chǎn)品進行可靠性方面的測試,以保證在長期使用中的可靠性。可靠性實驗在封裝中由Precon和Lo…
HAST與HALT、HASS之間的關系與區(qū)別

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高加速應力試驗(HAST)是指,通過使用高于正常工作應力,對器件實施相應試驗,確定器件薄弱環(huán)節(jié)及極限參數(shù)。主要分為高加速…
IGBT器件基本失效模式及機理

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目前,國內(nèi)外對于IGBT器件失效的研究眾多,主要從兩方面入手,一方面是考慮器件自身的工作循環(huán),另一方面是考慮器件的實際工…
LED晶片

LED晶片HAST加速壽命測試的介紹

因為目前的測試方式都不足以代表完整LED芯片的使用壽命和需花費冗長的時間。因此,有其他的團隊開始研究加速壽命測試方式和壽…

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